Na podstawie niewielkiej porcji informacji od właściciela, badany iPhone 7 Plus niespodziewanie wyłączył się. Kontrolowana próba uruchomieniowa wykazuje 0.000A poboru niewymuszonego a to z kolei zapowiada klasyczne problemy z przegrzaniem.

Badanie fizykalne płyty głównej iPhone 7 Plus

Kontrola wewnętrzna urządzenia iPhone 7 Plus wykazuje ślady poprzedniej naprawy, bezpośrednio wpływające na kondycję techniczną. Szczególnie rzuca się w oczy brak insulatora zewnętrznego płyty głównej (zdjęcie #1 oraz #2 przedstawiający stan oczekiwany) oraz brak uszczelniacza ekranu. Czujniki zalania w pozycji negatywnej – brak śladów uszkodzenia przez wodę.

Zdemontowanie płyty głównej ujawnia dodatkowe ślady poprzedniej (prawdopodobnie nieskończonej) naprawy urządzenia. Brak insulatora północnego (N), zerwane 3 z 5 zabezpieczeń portów komunikacyjnych. Pokrywa EMI procesora luźno nałożona, bez lutowania do korespondujących pól masowych – co może być kierunkiem usterkowym. Kolejna, kontrolowana próba uruchomienia (tylko płyta główna) ujawnia .200A stałego poboru wymuszonego – po uruchomieniu procedury „prompt_to_boot”.

Wnioski pokontrolne badania iPhone 7 Plus

Objawem bezpośrednim uszkodzenia jest wymuszony pobór 0.200A po uruchomieniu procedury startu „prompt_to_boot”. Mogło do tego dojść na wiele sposobów ale wspólnym elementem jest brak reakcji procesora głównego (CPU) na zasilanie oraz ślady naprawy posadowienia procesora komunikacyjnego (baseband) po wcześniejszej usterce typu „brak sieci” lub pochodnej.

Zazwyczaj, podobne zachowanie jest wynikiem przegrzania procesora głównego w wyniku procedury rebalingu co-procesora (baseband i naprawa usterki z rodziny „brak sieci”). Jednak, na podstawie wywiadu, telefon działał przez okres około 1.5 roku do wystąpienia obecnej usterki. Podpowiedzią może być nieprawidłowo wstawiona osłona EMI, która w sposób luźny mogła przemieścić się po elementach zasilających procesora i doprowadzić do licznych zwarć i przekierowań napięć zasilających (3.3V, 3.0V, 2.8V i 1.8V) do linii danych, operujących w zakresach 0.8V, 1.1V i 1.2V.

Na chwilę obecną, jedynym sposobem kontroli sprawności procesora w stanie obecnym jest pełny reballing procesora głównego i próba odtworzenia jego połączeń z płytą główną. Istnieje jednak duże prawdopodobieństwo (na podstawie tego, co powyżej), że uszkodzenie synapsów zostało już dokonane a planowana próba, z przyczyn ekonomicznych nie będzie miała celowości.